Pásztázó Elektronmikroszkóp

Műszaki specifikációk:

• téremissziós elektronforrás
• felbontóképesség 1,0 nm 1,0 kV gyorsítófeszültségnél
• visszaszórt és szekunder elektron detektorok, speciális lencsedizájn
• STEM detektor alkalmazásával lehetőség van klasszikus TEM minták vizsgálatára is
• a detektor szegmensek egyedileg beállíthatók, ami lehetővé teszi a mintáknál a szögbeli kontrasztot vagy a jelintenzitás optimalizálását
• alkalmas nagyszámú sorozatmetszet elektron tomográfiás vizsgálatára
• alkalmas block face tömbi minták in situ ultramikrotóm metszéssel történő pásztázó mikroszkópos vizsgálatára