TEM - Mikroszkóp H

Műszaki specifikációk:

• gyorsítófeszültség tartomány 25-125 kV
• W katód
• felbontóképesség 0,2 nm lattice image rácsfelbontás és 0,45 nm particle image felbontás
• nagyítás zoom módban 1 000-600 000 x, kisnagyítású módban 50-1000 x
• manuálisan dönthető mintatartó, maximális mintadöntés ±60°, mintadöntés nagy kontrasztú apertúrával ±25°
• nagyfelbontású oldalsó MegaView CCD kamera. A kamera lehetővé teszi a gyors keresést és felvétel készítést a Soft Imaging System által fejlesztett iTEM szoftver használatával
• 3 mm-es átmérőjű gridre felvitt metszetek vizsgálatára alkalmas