TEM - Mikroszkóp J

Műszaki specifikációk:

• gyorsító feszültség tartomány 40-100 kV
• W katód
• felbontóképesség 0,2 nm lattice image rácsfelbontás és 0,45 nm particle image részecske felbontás
• nagyítás zoom módban 600-500 000 x, kisnagyítású módban 50-1 000 x
• két grides manuálisan dönthető mintatartó, maximális mintadöntés ±60°
• nagyfelbontású alsó Sharp:Eye CCD kamera. A kamera lehetővé teszi a gyors keresést és felvétel készítést a Soft Imaging System által fejlesztett iTEM szoftver használatával
• 3 mm-es átmérőjű gridre felvitt metszetek és replika minták vizsgálatára alkalmas