Pásztázó Elektronmikroszkóp
2023. január 16. hétfő
Thermo Scientific FEI Apreo pásztázó elektronmikroszkóp
Műszaki specifikációk:
- téremissziós elektronforrás
- felbontóképesség 1,0 nm 1,0 kV gyorsítófeszültségnél
- visszaszórt és szekunder elektron detektorok, speciális lencsedizájn
- STEM detektor alkalmazásával lehetőség van klasszikus TEM minták vizsgálatára is
- a detektor szegmensek egyedileg beállíthatók, ami lehetővé teszi a mintáknál a szögbeli kontrasztot vagy a jelintenzitás optimalizálását
- alkalmas nagyszámú sorozatmetszet elektron tomográfiás vizsgálatára
- alkalmas block face tömbi minták in situ ultramikrotóm metszéssel történő pásztázó mikroszkópos vizsgálatára